어플리케이션

휴대폰 / 디스플레이

SIM 커넥터 핀 검사

어플리케이션

이 어플리케이션은 Gocator 2420 센서를 적용하여 나노 SIM 커넥터를 측정하는 인라인 검사 공정이며, 총 14곳의 위치에 7개의 작은 핀과 7 개의 큰 핀이 있는 SIM 커넥터의 검사입니다.




솔루션

효율적이고 경제적인 생산라인과 비효율적이고 고가인 생산라인의 차이는 정확한 품질관리 정보를 확보하는데 달려있다고 할 수 있습니다. 예를 들어, 커넥터의 작은 핀에 불량이 있으면 소켓과의 접촉에 문제가 발생합니다. 커넥터에 결함이 있거나 핀이 누락될 경우 소켓과의 접촉 불량으로 심각한 결과를 초래할 수 있기에, 결함이 있는 커넥터는 생산 과정에서 반드시 검출이 되어야 합니다.



하지만 안정적인 품질검사 관리 정보가 없다면, 결함이 있는 커넥터가 대리점이나 고객에게 공급되기 쉽고, 장기적으로 생산자에게 더 많은 비용이 드는 결과를 초래할 수 있습니다. 커넥터 핀의 유무를 판단하고 및 높이를 측정하는 가장 안정적인 방법은 3D 스캐닝 기술을 사용하여 핀의 높이 값을 정확히 측정함으로 엄격한 검사기준에 맞추어 부품의 합격 / 불합격을 판단하는 것입니다.




솔루션 제안

Gocator 2420은 높이 기준점(height threshold)을 이용하여 Start 와 Stop의 트리거를 보내 SIM커넥터를 스캔하도록 설정되어 있습니다. Gocator 표면 스캔 모드는 스캔한 프로파일을 자동으로 결합하여 SIM 커넥터의 표면을 완벽하게 시각화하여 출력해 줍니다. 커넥터 핀의 높이 값은 각 프로파일마다 1,940개의 데이터 포인트를 이용하여 중간값(median) 혹은 평균값(average)으로 계산됩니다.
Gocator는 Z축 측정범위(MR)가 커서 “Window down” 기능을 사용하면 측정하고자 하는 부품의 높이에 맞게 영역을 설정할 수 있습니다. Gocator 2420은 스캔속도를 최대 5kHz까지 올릴 수 있습니다 (전체 측정 범위의 1/4이 필요한 경우). 이는 요구 공정 사이클 시간 내에 1개의 나노-SIM 커넥터 표면 전체를 완벽하게 검사할 수 있음을 의미합니다.




3D 커넥터 핀 검사에서 Gocator 2420의 장점

• 컨베이어에 높이가 서로 다른 부품이 유입되어도 측정이 가능합니다.
• 커넥터의 다른 표면을 레퍼런스로 핀의 상대적 높이를 계산합니다.
• 핀의 높이를 수백 미크론 수준으로 정밀하고 정확하게 측정합니다.
• 양산 속도에 맞게 고속으로 커넥터 핀의 높이를 측정합니다.




효과

Gocator 센서를 사용한다는 것은 모든 커넥터들을 양산 속도에 맞추어 검사할 수 있다는 것을 의미하며, 얼마나 많은 부품에 결함이 있는지를 정확히 파악할 수 있다는 것입니다. 또한 Gocator는 정밀한 스캔으로 매우 작은 허용 공차를 양산 속도로 적용할 수 있게 해줍니다. 생산 과정의 품질 문제를 신속하게 파악할 수 있기에, 결함이 있는 부품의 유출로 인한 과다한 비용 발생을 막을 수 있어 결과적으로 상당한 원가 절감의 효과를 가져다 줍니다.